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| 标题（Title） | 123 个字符（一般不超过80个字符） |
IONTOF - TOF-SIMS (time of flight secondary ion mass spectrometry) - LEIS (low energy ion scattering). Ion beam technolo...
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| 关键词（KeyWords） | 262 个字符（一般不超过100个字符） |
IONTOF, TOF-SIMS, LEIS, company, products, time of flight, secondary ion mass spectrometry, low energy ion scattering, ion scattering spectroscopy, iss, surface analysis, surface spectrometry, surface imaging, depth profiling, retrospective analysis, 3D analysis
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| 描述（Description） | 297 个字符（一般不超过200个字符） |
IONTOF: TOF-SIMS products for time of flight secondary ion mass spectrometry and LEIS products low energy ion scattering and ion scattering spectroscopy (iss). Company for products for surface analysis, surface spectrometry, surface imaging, depth profiling, retrospective analysis and 3D analysis
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